半导体ft测试原理

问题描述

精选答案

基本原理是探针加信号激励给pad，然后测试功能。

a. 测试对象，wafer芯片，还未封装；

b. 测试目的，筛选，然后决定是否封装。可以节省封装成本（MPW阶段，不需要；fullmask量产阶段，才有节省成本的意义）。

c. 需要保证：基本功能成功即可，主要是机台测试成本高。高速信号不可能，最大支持100~400Mbps；高精度的也不行。总之，通常CP测试，仅仅用于基本的连接测试和低速的数字电路测试。