dft存在的条件
问题描述
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可测试性技术(Design For Testability-DFT)就是试图增加电路中信号的可控制性和可观测性,以便及时经济地测试芯片是否存在物理缺陷,使用户拿到良好的芯片.其中包括Ad Hoc技术和结构化设计技术.目前,任何高IC设计系统都采用结构化设计技术,其中主要扫描技术和内建自测两种技术.
一个电路的测试性问题应该包括两个方面:
由外部输入信号来控制电路中的各个节点的电平值,称为可控制性.
从外部输出端观测内部故障地难易程度,称为可观测性
扫描技术是指电路中的任一状态移进或移出的能力,其特点使测试数据的串行化.比较常使用的是全扫描技术和边界扫描技术.全扫描技术是将电路中的所有触发器用特殊设计的具有扫描功能的触发器代替,使其在测试时链接成一个或几个移位寄存器,这样,电路分成了可以进行分别测试的纯组合电路和移位寄存器,电路中的所有状态可以直接从原始输入和输出端得到控制和观察.这样子的电路将时序电路的测试生成简化成组合电路的测试生成,由于组合电路的测试生成算法目前已经比较完善,并且在测试自动化生成方面比时序电路的测试生成容易得多,因此大大降低了测试生成的难度.
对于存储器模块的测试一般由生产厂家提供专门的BIST电路,通过BIST电路可以方便地对存储单元地存取功能进行测试,所谓的BIST电路是指把测试电路做到IC里面,利用测试电路固有的能力自行执行一个测试存储器的程序.另外MBIST还可以解决RAM SHADOW的问题提高芯片的可测试性.
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离散傅里叶变换(DFT)存在的条件是输入信号必须是离散的,并且具有有限的长度。DFT要求信号在时间上是周期性的,且周期必须是有限的。此外,DFT还要求信号是平稳的,即信号的统计特性在时间上保持不变。最后,DFT还要求信号是实数信号或复数信号。只有在满足这些条件的情况下,才能应用DFT来对信号进行频域分析和频谱表示。
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