SEM、TEM、XRD原理及区别

问题描述

精选答案

xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。

AES是指能谱，主要分析浓度分布。

STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。

AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----回答的不是很全。