ct介损试验方法

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CT介损试验方法是一种通过测量材料在不同频率下的电容和磁感应强度来评估材料的介电损耗性能的方法。

试验时，将样品置于电容量为标称值的电容器中，通过变压器将试样与电容器串联，以形成一个电感上并联着的电容（L-C）振荡回路，通过调节电路的谐振频率(一般在50Hz~1MHz范围内)和测量电路的电容值，可以得到样品的有效电阻（电容介损角正切值tgδ）和有效电感（电感介损角正切值tgδ）。CT介损试验方法适用于固体、液体、气体等不同形态的材料，可用于研究材料对电磁波的能量吸收和传递能力，以及材料的绝缘性能等。

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拆开一次接线及小套管接地片，将西林电桥高压引线接在CT的L端，测量引线接在小套管端，电桥采用正接法测量