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mos闩锁效应原理

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问题更新日期:2024-10-13 00:09:11

问题描述

mos闩锁效应原理,在线求解答
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闩锁效应是CMOS工艺所特有的寄生效应,严重会导致电路的失效,甚至烧毁芯片。闩锁效应是由NMOS的有源区、P衬底、N阱、PMOS的有源区构成的n-p-n-p结构产生的,当其中一个三极管正偏时,就会构成正反馈形成闩锁。