需要检测未知物粉末的成分，那里能做检测

问题描述

精选答案

第一反应是XRD，不过楼主的问题是怎么检测里面都有什么物质。p-XRD，也就是

粉末XRD

，能够得到晶胞参数，如果是CCDC库里有的，还能够借此查出这块晶体是什么物质，知道对应的结构。前提是，这是个已经被解出来的晶体，且CCDC库里有录入。传说有通过粉末XRD解析晶体结构的方法，听说而已，原理不明。除了粉末XRD之外，还有

单晶X射线衍射(XRD)

，是目前依赖程度很高的一种表征手段，做晶体的人都很依赖它。但是，做过单晶X射线衍射得到的晶体数据，需要用专门的软件，一般是SHELX，来对数据进行解析。解晶体是一个繁琐，而且需要很多耐心以及经验的手艺。实际上，成功的解析出一个非常复杂的晶体，这本身就能够发文章了。当然要看晶体有多复杂了。对了，解出一个晶体，就是指得到这个晶体的结构，包括单胞参数，包括点阵结构，包括……，这门手艺叫做单晶结构解析。解晶体的市场价，根据晶体的难易程度，收费不一，500那是起步价，上千的也不少见。当然，这种表征手段，有一定的可能能够达到楼主的目的，因为不同元素的衍射强度不一样，这些信息在收集的单晶数据中，都会有体现。将N当做O，那么椭球图一定很难看。但，如果是金属元素，尤其是彼此接近，且价态相同的金属元素，那么纯粹的依赖单晶X射线衍射，其实是很难辨别出来的。然后，还有一种叫做

电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP）

的表征方法，这种方法应该是能够满足楼主的要求：检测未知晶体里有什么物质。原理很简单，“以等离子体为激发光源的 原子发射光谱分析方法,可进行多元素的同时测定”。随便搜索出来的，简而言之，就是以高温等离子体为能力来源，是样品中元素的外层电子被激发到高能级的轨道上，然后再跃迁回低能级的轨道。这个跃迁的过程或放出原子的特征谱线，根据谱线确定所含元素。然后还有

X射线光电子能谱(XPS)

，也能达到楼主的要求。这个原理上和上边的ICP有点接近，不过能量使用X射线供给，轰击的对象时内层电子。它把内层电子给打散了，散了，了……然后电子就变成的光电子，然后我们就获得了一堆光电子，X射线的能量与光电子能量之差，就是该电子的结合能。而电子结合能对于元素而言，是特征的。而且！如果元素拥有价态，也会影响其结合能。换言之，通过XPS，除了能知道有什么元素之外，还能知道它的价态。累了，以上