mbist测试原理

问题描述

精选答案

MBIST（Memory Built-In Self Test）是一种电路板上的芯片嵌入式自测试技术，它可以模拟出很多种访存测试模式，来检测芯片的存取时序，功耗，结构等。

MBIST的原理是将待测试的记忆单元和支持性电路，嵌入到一个可以独立运行的硬件中。

通过使用测试模式和测试程序，可以模拟出多种类型的访存功能，以及测试不同的指令，字长和数据长度等。

一旦自测试过程完成，就可以检查出芯片中可能存在的故障。