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为什么MOS管栅的SiO2层上要形成多晶硅而不是直接覆盖金属

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问题更新日期:2024-10-15 16:56:48

问题描述

为什么MOS管栅的SiO2层上要形成多晶硅而不是直接覆盖金属,在线求解答
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最早的CMOS的栅极二氧化硅上覆盖的是金属,栅极先做S/D,S/D退火后才能做栅极(因为Gate是金属,不能承受高温),栅极和互连的金属线是一起做的,为了保证栅极和S/D能够连接起来,所以设计规定栅极和S/D的重叠部分必须在0.5um以上。这就大大增加了GS和GD的重叠电容。严重影响了设备的性能。同样的,后来的铝栅工艺也由于铝熔点不够高没有得到进一步的应用。

而硅栅工艺中,多晶硅熔点高,参杂后电阻低,工艺是自对准的,能直接拉制出方形硅锭,材质、电能消耗较少,先做硅栅再做漏源阱再退火,器件越做越小,到如今22nm。设备比较简单,能用较低纯度的硅作投炉料,并能制出大型硅锭以形成工业化生产。