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EOS的过电压破坏

老王说监理那点事 | 简单学习,快乐成才!         
问题更新日期:2024-10-21 15:17:08

问题描述

EOS的过电压破坏,在线求解答
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EOS是Electrical Over-Stress的缩写,意为过电压破坏,是指过电压产生的热效应对电子元件的破坏。

一般来说,在静电不良分析的角度上来说最常见到的就是「ESD」与「EOS」这两个名词,ESD指的是当ESDS Item在遭受到本身或其它外部产生之静电压场瞬间由局部放电所造成的破坏情形,而EOS则是指其它测试机台、生产机台、仪器、治具等所产生之设计不当电压(流)、或是漏电流对组件所造成之破坏情形称之;两者在成因上有很大的不同,所以在分析时亦可依据一些特性可看出一些端倪。首先是绝大多数的情况下EOS的电流均远大于ESD所产生的电流,且破坏时间上ESD多为数nS而EOS则可到数μS之久,所以在成相分析上EOS的破坏点多可见到焦黑的情形,而ESD则多仅可见漏电流产生路径之痕迹或空洞罢了!