全反射光谱测定法原理

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全反射红外光谱法 attenuated total reflectance method。又称ATR法

可用于样品深度方向及表面的红外光谱测定。利用一特殊棱镜(如TlBr和TLI作成的KRS-5棱镜在250cm-1以上透明)，在其两面夹上样品(详见5.3.4)，入射光经在样品、棱镜中多次反射后到达检测器。入射光到达样品表面的深度与入射波长、入射角以及棱镜及样品的折射率有关。此法用于测定不易溶解、熔化、难于粉碎的弹性或粘性样品，如涂料、橡胶、合成革、聚氨基甲酸乙酯等表面及其涂层，也可用于表面薄膜的测定。

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全反射光谱测定法的原理是测量光线的强弱。所以不管是发光体散发出来的光亮还是物体反射出来的光，都可以去测量它。而测量的结果就决定了将要用什么样的光圈和快门来对主体进行正确的曝光。这样子的话拍出来的照片就会比较准确。在现在的相机里都会有一个内置测光表。它能够准确的测量光线照进镜头的强度。因为它测量的是物体所反射的光线，所以很多比较专业的老师会把它称为反射式测光法。